全部作者	张子筠
论文名称	A MIP Model for IC final testing order selection problem
研讨会名称	The 2008 International Conference on Modeling, Simulation & Visualization Methods
举行地点	NATUSA-美国拉斯维加斯
会议开始时间	2008-07-14
会议结束时间	2008-07-17
作者顺序	第一作者