全部作者	張子筠
論文名稱	A MIP Model for IC final testing order selection problem
研討會名稱	The 2008 International Conference on Modeling, Simulation & Visualization Methods
舉行地點	NATUSA-美國拉斯維加斯
會議開始時間	2008-07-14
會議結束時間	2008-07-17
作者順序	第一作者