| 专任 | |
| 职称 | 副教授 |
| 姓名 | 李水彬 |
| 联络电话 | 03-4581196 分机:6114 |
| 电子邮件 | shuipin@uch.edu.tw |
| 研究专长 | 品质管制、先进制程管制(APC) |
| 实务专长 | 品质管制、先进制程管制(APC) |
| 学历 | 清华大学 统计研究所 博士 清华大学 统计研究所 硕士 政治大学应用数学系 |
| 经历 | 健行科技大学工业工程与管理系副教授 清云技术学院工业工程与管理系助理教授 朝阳科技大学财务金融系助理教授 |
| 研究室 | 商学院 509室 |
| 计画类别 | 类别 | 计画名称 | 起迄日期 |
|---|---|---|---|
| 政府-其他案件 | 主持人 | 探索相互拉拔的差异化教学法以提升优异学生的学习强度 | 2023.08 ~ 2024.07 |
| 政府-其他案件 | 主持人 | 将课堂活动布置在课堂外的场域以降低过往在数据科学学习失败的体验造成之学习焦虑的蔓延效应 | 2022.08 ~ 2023.07 |
| 政府-其他案件 | 主持人 | 通过实体数据生成，收集，描述和分析的流程，培养数据科学思维和数据可视化技能 | 2021.08 ~ 2022.07 |
| 政府学术研究计画-科技部专题研究计画 | 主持人 | 应用影像对比强化技术与图像几何特征在晶圆混合型态缺陷图的分类上 | 2019.08 ~ 2021.07 |
| 政府学术研究计画-科技部专题研究计画 | 主持人 | 开发自动晶圆缺陷分类与机台问题诊断管理系统 | 2018.08 ~ 2019.07 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | 液晶面板瑕疵影像自动分类技术 | 2018.03 ~ 2019.02 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | 大数据分析应用在晶圆影像自动化识别技术之开发 | 2017.03 ~ 2018.02 |
| 校内补助案 | 主持人 | 学生缺旷原因分析 | 2016.08 ~ 2017.07 |
| 政府学术研究计画-科技部专题研究计画 | 主持人 | 多产品单机台之double EWMA 批次控制器 | 2016.08 ~ 2017.09 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | 新制程管制技术之应用 | 2015.09 ~ 2016.07 |
| 政府-学术研究计画 | 主持人 | 应用于半导体代工厂之增量EWMA批次控制器 | 2015.08 ~ 2016.07 |
| 政府-学术研究计画 | 主持人 | 半导体代工厂之批次控制问题研究 | 2014.08 ~ 2015.07 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | 工程巨量资料分析方法与商业应用 | 2014.07 ~ 2015.06 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | PEDA问卷调查分析模组 | 2013.08 ~ 2014.01 |
| 政府-学术研究计画 | 主持人 | 使用Lasso方法诊断制程剖面资料之异常原因 | 2012.08 ~ 2013.10 |
| 企业产学计画(含公营及私人企业) | 主持人 | 品质技术教育训练 | 2012.07 ~ 2012.12 |
| 企业产学计画案(含公营及私人企业，不含委训计画) | 协同主持人 | 六标准差分析模组专案计画 | 2011.01 ~ 2011.06 |
| 政府学术研究计画 | 主持人 | 批次制程管制下的剖面监控方法 | 2010.08 ~ 2011.09 |
| 政府学术研究计画 | 主持人 | 半导体制程之统计制程管制/在批次控制架构下 | 2009.08 ~ 2010.07 |
| 企业产学计画案(含公营及私人企业，不含委训计画) | 主持人 | 98年协助服务业研究发展辅导计画「研训谘询补助」计画 | 2009.07 ~ 2009.08 |
| 企业产学计画案(含公营及私人企业，不含委训计画) | 协同主持人 | 98年协助服务业研究发展辅导计画「研训谘询补助」计画 | 2009.07 ~ 2009.08 |
| 国科会案件 | 主持人 | 利用空间分析侦测晶圆缺陷模型 | 2006.11 ~ 2007.10 |
| 国科会案件 | 主持人 | 化学机械研磨制程之阶层式批次控制 | 2005.08 ~ 2006.07 |
| 刊物名称 | 论文名称 | 作者顺序 | 出版日期 |
|---|---|---|---|
| Journal of Industrial and Production Engineering | Integrated statistical process control and engineering process control for a manufacturing process with multiple tools and multiple products | 第一作者 | 2015/04 |
| Journal of Quality Technology | Monitoring Batch Processes with Multiple On–Off Steps in Semiconductor Manufacturing | 第一作者 | 2011/04 |
| 清云教学卓越期刊 | 抽样分析实务-清云科技学生满意度调查 | 第一作者 | 2009/07 |
| 清云教学卓越期刊 | 抽样分析实务-清云科技大学学生满意度调查 | 第一作者 | 2009/07 |
| IIE Transactions | Stability and performance of a double MEWMA controller for drifted MIMO systems | 第一作者 | 2008/07 |
| 电子月刊 | 半导体资料工程概论 | 第一作者 | 2007/06 |
| 研讨会名称 | 举行地点 | 论文名称 | 作者顺序 | 起迄日期 |
|---|---|---|---|---|
| 2023全国管理实务暨学术研讨会 | 中华民国桃园市中坜区 | 使用3^7−4部分因子实验探讨 影响2D影像仪测量品质的因素 | 第二作者 | 2023.04.27 ~ 2023.04.27 |
| 2014 国际统计学术研讨会 | 中华民国新竹市 | 批次控制在单机台多产品制程之稳定性与绩效比较 | 第一作者 | 2014.12.06 ~ 2014.12.06 |
| 2014年智慧科技与应用统计研讨会 | 中华民国台北市 | 探讨高混合型半导体代工制程之批次控制绩效 | 第一作者 | 2014.05.24 ~ 2014.05.24 |
| 2014全国管理实务暨学术研讨会 | 中华民国桃园县中坜市 | 应用品质改善技术提升餐饮业服务品质/以G义式餐厅为例 | 第一作者 | 2014.05.08 ~ 2014.05.08 |
| the 13th Annual Conference of the European Network for Business and Industrial Statistics (ENBIS-13) | 土耳其共和国安卡拉 | A Framework for Run-to-Run Process Control on a High-Mixed Semiconductor Manufacturing Process | 第一作者 | 2013.09.15 ~ 2013.09.19 |
| 2013全国管理实务暨学术研讨会 | 中华民国桃园县中坜市 | 关于混合制程之批次控制架构与模拟分析 | 第一作者 | 2013.05.16 ~ 2013.05.16 |
| 2011 TERA International conference on education | 台湾，中华民国kaohsiung | Correlates of Self-confidence in Facing the Future for Students at ChingYun Uninversity | 第一作者 | 2011.12.15 ~ 2011.12.18 |
| 2010 Joint Statistical Meetings | 加拿大温哥华 | A Study of SPC under Run-to-Run Feedback Control | 第一作者 | 2010.07.31 ~ 2010.08.05 |
| The 10th International Conference on Automation Technology | 台湾台南市 | Performance Analysis of an EWMA Controller for a Drifted SISO System subject to Metrology Delay | 第二作者 | 2009.06.27 ~ 2009.06.29 |
| 第十八届南区统计研讨会/Health Monitoring of Batch Processes(with application to Semiconductor Manufacturing) | NATTWN-台湾，中华民国高雄市 | Health Monitoring of Batch Processes(with application to Semi-conductor Manufacturing) | 第一作者 | 2009.06.26 ~ 2009.06.27 |
| 第十八届南区统计研讨会 | 台湾高雄市 | Health Monitoring of Batch Processes (with application to Semiconductor Manufacturing) | 第一作者 | 2009.06.26 ~ 2009.06.27 |
| 2009第二届提升教育品质研讨会 | NATTWN-台湾，中华民国中坜市 | 影响学生满意度的因素--以清云科技大学为例 | 第一作者 | 2009.05.15 ~ 2009.05.15 |
| 2009提升教育品质研讨会 | 台湾中坜市 | 影响学生满意度的因素--以清云科技大学为例 | 第一作者 | 2009.05.15 ~ 2009.05.15 |
| 中国工业工程学会97年度年会暨学术研讨会 | NATTWN-台湾，中华民国中坜 | 晶圆锁存器缺陷模型之视觉化辨识 | 第一作者 | 2008.12.13 ~ 2008.12.13 |
| Proceedings of the 2008 winter simulation conference | NATUSA-美国迈阿密 | Systematic Applications of Multivariate Analysis to Monitoring of Equipment Health in Semiconductor Manufacturing | 第二作者 | 2008.12.07 ~ 2008.12.10 |
| 类别 | 获奖名称 | 国别 | 颁奖机构 | 获奖日期 |
|---|---|---|---|---|
| 其他奖项 | 104年度教师制作编纂教材竞赛特优 | 中华民国 | 健行科技大学卓越教学中心 | 2015/12/01 |
| 其他奖项 | 104年度教师制作编纂教材竞赛优良 | 中华民国 | 健行科技大学卓越教学中心 | 2015/12/01 |
| 其他奖项 | 104年度教师制作编纂教材竞赛/特优 | 中华民国 | 健行科技大学卓越教学中心 | 2015/12/01 |
| 获全国性或国际性学术荣誉奖 | 最佳论文优等奖 | 中华民国 | 健行科技大学 | 2014/05/08 |
| 九十九年度教师制作新开发教材竞赛优等 | 中华民国 | 清云科技大学 | 2010/12/31 | |
| 九十八年度教师编撰教材 | 中华民国 | 清云科技大学 | 2009/12/31 | |
| 九十七学年教学卓越计画-数码教材竞赛甲等奖 | 中华民国 | 清云科技大学 | 2009/06/23 |
| 专利/新品种名称 | 专利字号 | 专利类别 | 国别 | 申请进度 | 作者顺序 | 申请日期 | 启用日期 | 终止日期 | 发照单位 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 液晶面板柱高测量之减点点位选择及自我评估模式 | 发明专利 | 国内 | 申请中 | 第一作者 | 2019/04/15 | ||||
| 一种结合社群网站云端打印装置/云端打印系统 | I630541 | 发明专利 | 国内 | 已核准 | 第一作者 | 2017/04/20 | 2018/07/21 | 2037/06/14 | 经济部智慧财产局 |
| 年度 | 类别 | 名称 | 是否取得专利 |
|---|---|---|---|
| 2018 | 技术移转 | 利用感应数据建立机台健康指标 | 否 |
| 发照单位 | 证照名称 |
|---|---|
| 中华民国品质学会 | 品质技术师资格证书 |
| 中华民国品质学会 | 服务业品质专业师资格证书 |
| 三星统计服务有限公司 | 调查与研究方法分析师 |
